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  • 您的半导体产线是否存在MES系统能解决的良率问题?
    在半导体制造中,产品良率直接影响产能、成本和客户交付周期。然而,随着工艺复杂度增加和批量多样化,产线上的良率问题愈发突出:工艺参数波动导致产品不良设备状态异常或偏差未及时发现物料批次差异影响成品率缺乏实时数据分析和追溯手段这些问题不仅降低产能,还可能增加返工、报废和客户投诉风险。MES系统如何帮助提升良率?1. 实时数据采集与监控MES系统可实时采集设备、工艺参数和产线状态,对异常波动进行即时报警,帮助操作员快速调整工艺,减少因延迟处理导致的产品不良。2. 工艺过程控制通过M···